高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：最快0.5ms，测量值偏差0.07%
● 测量频率：1MHz~1.3GHz● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）● 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）● 基本精度：±0.65% rdg.● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。
测量模式LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量测量参数Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q精度保证范围100 mΩ~5 kΩ显示范围Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)基本精度Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°测量频率1 MHz~1.3 GHz (设置分辨率100kHz)测量信号电平功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms电流 ... [详细介绍]